| บรรณานุกรม | Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen.VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability.2006.) |
| ชื่อทรัพยากร | VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability |
| ชื่อผู้แต่ง | Laung-Terng Wang( 1) Cheng-Wen Wu( 1) Xiaoqing Wen( 1) |
| แหล่งทรัพยากร |